3、基本功能验证、MCU为复杂电路、芯片中具有微程序控制任务的产品叫做复杂电路。复杂电路使用ATE进行静态/动态参数测试时,其中包含了功能的矢量,因此即使基础测试通过,复杂电路并不能被视为OK,由于功能向量的要求很高,ATE不能做到这一点,存储深度也不能支持复杂电路,“任何时期的ATE都不能支持复杂电路的发展要求,简单ATE的测试也不能判断复杂电路的完整性。”陈大为说到,“对于复杂电路一定要进行功能验证,比如说复杂电路有很多高速接口、协议完整性跟电器物理参数靠ATE测试就没戏,必须要做EVB(板极)测试做功能演算,或是用ATE+台式仪器。”测试温度环境:- 40℃ 、 25℃ 、85℃( 105℃ 、 125℃ 、 150℃ )。
EMC是车规重中之重,
但对于芯片没有判别标准
在车规 MCU 芯片测试与认证中,陈大为重点介绍了电磁兼容(EMC),这对于整车、整机或部件的电子兼容考虑得比较多。到目前为止,IEC标准体系包括:电磁发射(IEC61967系列)、电磁抗扰度(IEC61967系列)、脉冲抗扰度(IEC62215系列)、CAN收发器EMC评估(IEC62228系列)、集成电路电磁兼容建模(IEC62433系列)等,可以为国内MCU提供典型测试标准。
对于MCU,典型的6种测试方法包括:
电磁(EMI)发射:TEM小室法,1Ω/150Ω直接耦合法,表面扫描法;法拉第笼法,磁场探头法,IC带状线法;
电磁(EMS)抗扰度:TEM小室法,直接射频功率注入法,大电流注入法;法拉第笼法,IC带状线法,表面扫描法;
脉冲抗扰度:同步瞬态注入法和非同步瞬态注入法,这两者注入的脉冲波形有ESD、EFT和浪涌
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